400-1188-260

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鍍層厚度

常常采用的方法有金相法、X-ray方法

金相法:采用金相顯微鏡檢測橫斷面,以測量金屬覆蓋層、氧化膜層的局部厚度的方法。一般厚度檢測需要大于1um,才能保證測量結(jié)果在誤差范圍之內(nèi);厚度越大,誤差越小。

X-ray法適用于測定電鍍及電子線路板等行業(yè)需要分析的金屬覆蓋層厚度。 包括:金(Au),銀(Ag),錫(Sn),銅(Cu),鎳(Ni),鉻(Cr)等金屬元素厚度。


主要測試項目

鍍層厚度

涂層厚度

復(fù)合鍍層厚度

涂層附著力


檢測設(shè)備

x熒光膜厚儀

金相顯微鏡

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